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銅仁涂層測厚儀-MiniTest 7400-德國EPK

創(chuàng)新的用戶界面概念結合便捷的數據管理，新產品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。

新概念的優(yōu)勢

直觀的菜單控制及與上下文相關的聯(lián)機幫助，使用簡易。大背光按鍵，即使戴著手套操作，也倍感舒適。大背光圖形顯示頻提供極佳的觀察效果，即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。

配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準及參數設置，無需專業(yè)技能，也可在最短的時間內完成困難測量任務。先進的數據管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設置批組。除了數字顯示讀數，層次清楚的顯示統(tǒng)計值和讀數包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計值。錯誤的讀數可以從批組中刪除以防止產生錯誤的統(tǒng)計值。

龐大的數據儲存器為必要的數據管理，可保存高達500批組的250,000個讀數。為滿足高精度測量的要求，7400探頭可達到5點校準（包括零點）。預設的校準方法符合工業(yè)準則和ISO 19840，SSPC，“瑞典”，“澳大利亞”的測量標準。此外，延伸的特殊校準方法也適用于粗糙表面的測量。

為了方便建立和評估測量值組和各種數據格式的輸出，標準配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數據如文本、Excel^®分析總表或PDF文檔，并允許筆記和注解條目。特點：測量樣品的圖片可以添加到數據報告中。

配備眾多的接口，MiniTest 7400可以連接各種外接設備。紅外接口(IrDA^®1.0)可作為標準配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設備，如外借電源、耳機、腳踏開關或警報器。對于單個裝置連接，則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA^®^//USB接口轉換器。

模擬信號處理時代已成過去，數字信號處理將成為未來的趨勢。

SIDSP^® 明顯優(yōu)勢

EPK此項探頭內部數字信號處理新技術為涂層測厚領域的創(chuàng)新奠定了新標準。高精度，高重現性，對溫度變化不敏感，適應性強，這些都是SIDSP^®的主要特點。創(chuàng)新的生產技術結合自動化校準過程，而且每個探頭可獨立校準，從而生產出高質量7400的探頭。

這主要源于充分利用了SIDSP技術賦予的優(yōu)勢。無與倫比的精密生產過程使得每個探頭都如出一轍的優(yōu)質。

重現性

讀數的可靠性主要取決于讀數的重現性。電磁干擾是最普遍的導致誤差的根源，所以保護測量系統(tǒng)和探頭電纜免受這些干擾非常重要。

跟傳統(tǒng)技術不同，SIDSP^®在探頭內部產生和控制激發(fā)信號�；貍鞯男盘栔苯舆M行數字轉換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過探頭電纜數字化傳輸到顯示裝置，也就是說：在這種情況下模擬測量系統(tǒng)的信號傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題，加長的電纜線同樣具有極強的抗干擾能力。

EPK 的SIDSP^®探頭具有極高的重現性。將探頭放在同一測量點測量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結果，再次證明了SIDSP^®探頭的優(yōu)秀性能。

生產過程

在生產過程中，x測厚儀，SIDSP探頭要經過特殊的校準程序，探頭在特征曲線上高達50個點進行校準，如此多個點的校準使得特征曲線在整個量程范圍內都十分精確以致可以消除其偏差。校準數據被永久儲存在傳感器,無論與哪一種SIDSP顯示器相連，都可以迅速地被檢索。此外，生產過程中，探頭的溫度性能永久地決定整個工作溫度范圍。這樣，每個探頭都可以獨立調整溫度補償，在任何溫度即使溫度大幅度變動，特征曲線仍可保持其精確度。

探頭的適應性

有色金屬的導電性可能會有所不同。對這些基體使用自動補償，基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能，可以精確測量多種導電性不同的有色金屬材料，無需特別在基體上校準儀器。

所有的SIDSP^®探頭充分地適應測量各種幾何形狀的樣品。可以對不規(guī)則形狀表面做出補償。當您在無涂層基體上校零時，整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎上進行校準。

探頭設計選擇

不同的線纜插口類型更加靈活，涂層測厚儀品牌，來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設計，后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。

對由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供最終保護，MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列（HD探頭）。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。

對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

MiniTest 7400 探頭

可選探頭

種類繁多的可換探頭，涂層測厚儀哪家好，滿足各種應用要求。

可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。

兩用型FN探頭自動識別基體材料。

與表面接觸后，儀器自動切換到合適的測量原理。因此，應用錯誤會被淘汰，加快了測量進程。

探頭技術參數

1.多點校準,在實驗室條件下符合提供的標準

2.零點校準，并且校準值和預期的涂層厚度接近

3.使用精密支架，不適用HD探頭

4.如果選擇“快速”，測量速度主要取決于操作

5.根據 DIN 55350第13部分

6.多點校準值優(yōu)于獲得的指定數據.

7.包括涂層

探頭設計選擇

不同的線纜插口類型更加靈活，來適應測試要求。每個標準探頭都可以提供直線纜插口或直角設計，后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。

　　　　　　　F 2 HD 探頭

對于粗糙表面，“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。

MiniTest 7400 主機技術參數

MiniTest 7400 可選配件

德国ElektroPhysik(简称EPK)公司是一家专门生产测厚仪的专业公司，自1954年以来一直致力于测厚类产品的开发和研究工作，是世界上最早生产测厚类产品的知名公司之一。

半个多世纪以来，EPK公司作为测厚领域的领军公司，在这个领域取得很高的声誉，有着不可替代的地位。EPK产品包括：MikroTest麦考特系列机械型涂镀层测厚仪，MiniTest 70系列口袋式便携式涂镀层测厚仪，MiniTest 700系列创新型SIDSP涂镀层测厚仪，MiniTest 1100-2100-3100-4100系列/MiniTest 7400高精度涂镀层测厚仪，MiniTest 600系列电子型涂镀层测厚仪，QUINTSONIC超声波涂层测厚仪，GALVANOTEST库仑镀层测厚仪，MiniTest 7200/7400 FH壁厚测厚仪，MiniTest 400系列超声波测厚仪，CTM-S连续厚度测量系统，StratoTest 4100路面测厚仪，StratoTest 4100 C炉壁测厚仪，PoroTest 7涂层针孔检测仪等。


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