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X射線熒光測(cè)試儀,紅外線測(cè)厚儀,可在微小樣品上,兩用涂層測(cè)厚儀,手動(dòng)或全自動(dòng)測(cè)量印刷線路板、電子元件和大規(guī)模生產(chǎn)零部件上的鍍層厚度。包括鎳層測(cè)厚、化鎳厚度等。
XDLM鍍層厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)
XDLM鍍層厚度測(cè)量?jī)x典型應(yīng)用領(lǐng)域
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