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X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)，涂層測(cè)厚儀epk，用于在生產(chǎn)過程中對(duì)薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測(cè)量和分析    

特點(diǎn)

• 法蘭測(cè)量頭，涂層測(cè)厚儀 fischer，用于在生產(chǎn)線中進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
• X射線探測(cè)器可以為比例計(jì)數(shù)管，涂層測(cè)厚儀器，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測(cè)器
• 在生產(chǎn)過程中直接用典型產(chǎn)品進(jìn)行快速簡(jiǎn)單校
• 可在真空或大氣中使用
• 可以在最高 500° C 的高溫基材上進(jìn)行測(cè)量
• 堅(jiān)固和耐用是設(shè)計(jì)的重心 

典型應(yīng)用領(lǐng)域

• 光伏技術(shù)（CIGS，透涂層測(cè)厚儀，CIS，濰坊涂層測(cè)厚儀價(jià)格，CdTe）
• 分析對(duì)金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
• 連續(xù)生產(chǎn)線
• 噴射和電鍍生產(chǎn)線監(jiān)測(cè)
• 測(cè)量大面積樣品