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高性能X射線熒光測量儀,涂層測厚儀mpo,配有最先進的硅漂移探測器(SDD),mpo涂層測厚儀,可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點
典型應(yīng)用領(lǐng)域
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