產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱/型號(hào) | | 主要技術(shù)指標(biāo) | 價(jià)格 從低到高 默認(rèn) |
| 涂層測(cè)厚儀 TIME2500 | 時(shí)代儀器 | 完全替代TT220 | 4600
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| 涂層測(cè)厚儀(磁性+渦流兩用) CTG260 | 嘉儀儀器 | 配置F1或N1探頭, 可磁性/渦流自行轉(zhuǎn)換 | 洽詢
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| 高性能X射線熒光測(cè)量?jī)x XAN 250/252 | 德國(guó)菲希爾Fischer | RoHS檢測(cè)、材料分析和鍍層厚度測(cè)量 | 洽詢
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| 薄膜測(cè)厚儀 Millimar 1240 | 德國(guó)馬爾Mahr | 顯示: 模擬/數(shù)字 | 洽詢
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| 涂層測(cè)厚儀(磁性法) CTG220 | 嘉儀儀器 | 測(cè)量范圍:0~1250μm | 洽詢
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| 薄膜測(cè)厚儀 Millimar C 1216 | 德國(guó)馬爾Mahr | 測(cè)量精度高,分辨率可達(dá)0.01μm | 洽詢
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| 薄膜測(cè)厚儀 Millimar S1840 | 德國(guó)馬爾Mahr | 動(dòng)態(tài)測(cè)量:Max, Min, Max-Min, Max+Min,平均值 | 洽詢
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| 薄膜測(cè)厚儀 Millimar C 1208 | 德國(guó)馬爾Mahr | 測(cè)量精度高,分辨率可達(dá)0.1μm | 洽詢
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| X 射線熒光測(cè)試儀 XDV -μ | 德國(guó)菲希爾Fischer | 可以對(duì)100μm或更小的結(jié)構(gòu)進(jìn)行分析 | 洽詢
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| 時(shí)代漆膜測(cè)厚儀 TT270 | 時(shí)代儀器 | 多種探頭可選,實(shí)現(xiàn)特殊測(cè)量需求 | 洽詢
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| 智能涂層測(cè)厚儀 TT260+w101 | 時(shí)代儀器 | 使用環(huán)境溫度:0~40℃ | 9800
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| STODA涂層測(cè)厚儀 STD2100 | 國(guó)產(chǎn) | 測(cè)量范圍:0~1250μm | 洽詢
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| 高性能X射線熒光測(cè)試儀 XDV -SDD | 德國(guó)菲希爾Fischer | 可自動(dòng)測(cè)量超薄鍍層和分析痕量元素 | 洽詢
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| 臺(tái)式涂層測(cè)厚儀 MMS PC2 | 德國(guó)菲希爾Fischer | 用于涂層厚度測(cè)量和材料測(cè)試 | 洽詢
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| 涂層測(cè)厚儀 Elcometer 456 | 英國(guó)易高 | 最小基體厚度 300μm(12mils),除非有特殊的校準(zhǔn)調(diào)節(jié) | 洽詢
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| X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng) X-RAY 4000 | 德國(guó)菲希爾Fischer | 連續(xù)的在線測(cè)量和分析 | 洽詢
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| X射線熒光測(cè)試儀器 XUL | 德國(guó)菲希爾Fischer | 用于電鍍行業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量 | 洽詢
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| X 射線熒光測(cè)試儀 XDAL | 德國(guó)菲希爾Fischer | 不適合測(cè)量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu) | 洽詢
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| X射線熒光測(cè)試儀 XDLM | 德國(guó)菲希爾Fischer | 適用于遠(yuǎn)距離測(cè)量(DCM方法,范圍0-80 mm) | 洽詢
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| 手持式涂層測(cè)厚儀 PMP10 | 德國(guó)菲希爾Fischer | 測(cè)量多種基材上的,包括小型結(jié)構(gòu)和粗糙表面上的導(dǎo)電涂層的厚度 | 洽詢
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