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kehury
技術文章
  • 分析天平的維護和保養(yǎng)的詳細介紹
  • LA 系列實驗室分析天平提供零缺陷精密測量
  • 涂層測厚儀的測量要素
  • 壓力傳感器的記錄式校正方法
  • 絕緣電阻的正確測量
  • 水中的雜質
  • 玻璃管液位計使用的注意事項
  • 體視顯微鏡工作原理和特點
  • 轉速表的分類
  • 用示波器的第三維發(fā)現信號異常
  • 當前位置:首頁 > 麗江儀器儀表 > 麗江分析儀器 > 麗江分析天平 > 日本AND
    產品圖片 產品名稱/型號 主要技術指標 價格
    FX-GD系列克拉天平,3200g,0.01g,型號:FX-3000GD,品牌:日本AND
    FX-GD系列克拉天平,3200g,0.01g
    FX-3000GD
    日本AND 稱重范圍3200g讀數精度0.01g重復精度0.01g 洽詢
    電子分析天平,210g,0.1mg,型號:HR-200,品牌:日本AND
    電子分析天平,210g,0.1mg
    HR-200
    日本AND 測量范圍:210克 洽詢
    精密電子分析天平,2200g,0.01g,型號:FZ-2000i,品牌:日本AND
    精密電子分析天平,2200g,0.01g
    FZ-2000i
    日本AND 稱重范圍:2200g 洽詢
    FX-CT系列克拉天平,310g,0.001g,型號:FX-300CT,品牌:日本AND
    FX-CT系列克拉天平,310g,0.001g
    FX-300CT
    日本AND 稱重范圍(ct/g)

    310/62

    讀數精度(ct/g)

    0.001/0.001

    重復性(ct/g)

    0.001/0.005

    洽詢
    FX-iWP 系列防水精密電子天平,320g,0.001g,型號:FX-300iWP,品牌:日本AND
    FX-iWP 系列防水精密電子天平,320g,0.001g
    FX-300iWP
    日本AND 量程 320g 精度 

    0.001g 

    稱盤尺寸 Ø 

    130mm 

    洽詢
    FX-iWP 系列防水精密電子天平,2200g,0.01g,型號:FX-2000iWP,品牌:日本AND
    FX-iWP 系列防水精密電子天平,2200g,0.01g
    FX-2000iWP
    日本AND 量程2200g 精度 0.01g 稱盤尺寸 Ø150mm  洽詢
    FX-i系列精密天平,1220g,0.01g,型號:FX-1200i,品牌:日本AND
    FX-i系列精密天平,1220g,0.01g
    FX-1200i
    日本AND FX-1200i

    1220g

    0.01g

    直徑150mm

    洽詢
    FX-i系列精密天平,320g,0.001g,型號:FX-300i,品牌:日本AND
    FX-i系列精密天平,320g,0.001g
    FX-300i
    日本AND FX-300i

    320g

    0.001g

    直徑130mm

    洽詢
    微量分析天平,220g,0.1mg,型號:GH-202,品牌:日本AND
    微量分析天平,220g,0.1mg
    GH-202
    日本AND 專業(yè)型高精度寬范圍微量天平 洽詢
    電子分析天平,210g,0.1mg,型號:GR-202,品牌:日本AND
    電子分析天平,210g,0.1mg
    GR-202
    日本AND 測量范圍:210/42克 洽詢
    日本AND MC系列精密天平,型號:AND MC系列,品牌:日本AND
    日本AND MC系列精密天平
    AND MC系列
    日本AND 標配玻璃防風罩(MC-1000/6100)或簡易防風罩(MC-10K/30K) 洽詢
    FX-GD系列克拉天平,122g,0.001g,型號:FX-120GD,品牌:日本AND
    FX-GD系列克拉天平,122g,0.001g
    FX-120GD
    日本AND 稱重范圍

    122g

    讀數精度

    0.001g

    重復精度

    0.001g

    洽詢
    日本AND BM系列自動微量分析天平1μg,型號:BM系列,品牌:日本AND
    日本AND BM系列自動微量分析天平1μg
    BM系列
    日本AND 最小顯示精度1μg(BM-20/BM-22)<br/>元素分析/煙塵分析/環(huán)境測定/生化相關實驗/微量分析測量 洽詢
    FX-GD系列克拉天平,220g,0.001g,型號:FX-200GD,品牌:日本AND
    FX-GD系列克拉天平,220g,0.001g
    FX-200GD
    日本AND 稱重范圍
    220g

    讀數精度

    0.001g

    重復精度

    0.001g

    洽詢
    日本AND AD-4212A系列高精度天平,0.1mg,型號:AD-4212A,品牌:日本AND
    日本AND AD-4212A系列高精度天平,0.1mg
    AD-4212A
    日本AND 稱重單元與顯示單元分別放置通過2米電纜連接,電纜可延長到最長5米,顯示單元可安裝到易于操作的地方。 洽詢
    日本AND HR-AZ/HR-A系列分析天平,型號:HR-AZ/HR-A系列,品牌:日本AND
    日本AND HR-AZ/HR-A系列分析天平
    HR-AZ/HR-A系列
    日本AND 內置校準砝碼,自動自校準(HR-AZ) 洽詢
    GP-K系列精密工業(yè)天平,31kg/6.1kg,1g/0.1g,型號:GP-32K,品牌:日本AND
    GP-K系列精密工業(yè)天平,31kg/6.1kg,1g/0.1g
    GP-32K
    日本AND 稱重范圍31Kg / 6.1Kg 讀數精度1/ 0.1g 重復精度0.5g / 0.1g  洽詢
    FX-i系列精密天平,3200g,0.01g,型號:FX-3000i,品牌:日本AND
    FX-i系列精密天平,3200g,0.01g
    FX-3000i
    日本AND FX-3000i

    3200g

    0.01g

    直徑150mm

    洽詢
    電子分析天平,310g,0.1mg,型號:HR-300,品牌:日本AND
    電子分析天平,310g,0.1mg
    HR-300
    日本AND 精度  0.1mg  洽詢
    微量分析天平,220g,0.1mg,型號:GH-200,品牌:日本AND
    微量分析天平,220g,0.1mg
    GH-200
    日本AND 專業(yè)型高精度寬范圍微量天平 洽詢
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